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首页 > 供应产品 > 亚微米粒径电位检测仪
亚微米粒径电位检测仪
产品: 浏览次数:0亚微米粒径电位检测仪 
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有效期至: 长期有效
最后更新: 2017-05-04
 
详细信息
 亚微米粒径电位检测仪
基本概述:
Nicomp 380 是纳米粒径分析仪器,采用现在**的动态光散射原理,利用专利的Nicomp多峰算法可以很准确的分析比较复杂多组分混合样品。为实验室的研究提供**的分析技术。 测试范围:0.3 nm – 10μm。
产品介绍:
 Nicomp 380  采用动态光散射原理检测分析颗粒系的粒度及粒度分布,粒径检测范围 0.3 nm- 10μm。粒度分析复合采用 Gaussian 单峰算法和拥有专利技术的 Nicomp 多峰算法,对于多组分、粒径分布不均匀液态分散体系的分析以及胶体体系的稳定性分析具有独特优势,其优异的解析度及重现性是其他同类产品无可比拟的。
380 Z3000 亚微米粒径电位检测仪 工作原理:
动态光散射法(DLS),有时称为准弹性光散射法(QELS),是一种成熟的非侵入技术,可测量亚微细颗粒范围内的分子与颗粒的粒度及粒度分布,使用**技术,粒度可小于1nm。 动态光散射法的典型应用包括已分散或溶于液体的颗粒、乳剂或分子表征。 悬浮在溶液中的颗粒的布朗运动,造成散射光光强的波动。 分析光强的波动得到颗粒的布朗运动速度,再通过斯托克斯-爱因斯坦方程得到颗粒的粒度。
激光粒度仪配件:
PSS使用一系列大功率激光二极管来满足更多更苛刻的要求。使用大功率激光照射,以便从小粒子出货的足够的入射光。
提供比普通光电倍增管(PMT)高20倍的灵敏度。
亚微米粒径电位检测仪是确定交替系统稳定性的重要参数,决定粒子之间静电排斥力大小,从未影响粒子间的聚集作用及分散系的稳定。该模块使用电泳光散射(ELS)技术,通过测量带点粒子在外加电场中的移动速度,即电泳迁移率、推算出Zeta电位,实现了粒子的粒径与Zeta电位,实现了粒子的粒径与Zeta电位测定的同机操作。
将初始浓度较高的样本自动稀释至可检测的的浓度,可稀释初始固含量为50%的原始样品,本模块收专利保护,其可免除人工稀释样品带来的外界环境的干扰和数据上的误差,此技术被用于批量进样和在线检测的过程中。
想要了解更多详细信息,请咨询站内:http://www.china-pss.com/sjxd-SonList-941037/
http://www.chem17.com/st277818/erlist_941037.html
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